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Secondary Ion Mass Spectrometry: Proceedings of the 4.Internat. Conf. on ...

Exemplarinformationen Katalogdatensatz15456 .
Kataloginformation Katalogdatensatz15456 .

Kataloginformation
Feldname	Details
Editor	Benninghoven, A.
	Okano, J.
	Shimizu, R.
TITLE	Secondary Ion Mass Spectrometry
Untertitel	Proceedings of the 4.Internat. Conf. on ...
Place of Publ.	Berlin
Verleger	Springer
Publ. Year	1984
Seiten	503 S.
Figures	415 Fig.
Complete Title	Secondary Ion Mass Spectrometry
Bde.	1983
Reihe	Springer Series in Chemical Physics
Band	Vol. 36
ISBN	3-540-13316-X
Conf. Title	Internat.Conf.on Secondary Ion Mass Spectrometry, 4. SIMS IV
Conf. Place	Osaka (JP)
Conf. Date	13.11.1983 -
Conf. Date	19.11.1983

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50019204	ZB: Ps 146		Zentralbibliothek	. Verfügbar .

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