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Secondary Ion Mass Spectrometry: Basic Concepts, Instrumental Aspects, Applications and Trends

Secondary Ion Mass Spectrometry: Basic Concepts, Instrumental Aspects, Applications and Trends
Kataloginformation
Feldname Details
Verfasser Benninghoven, A.
Ruedenauer, F.G.
Werner, H.W.
TITLE Secondary Ion Mass Spectrometry
Untertitel Basic Concepts, Instrumental Aspects, Applications and Trends
Place of Publ. New York,NY
Verleger Wiley
Publ. Year 1987
Seiten 1227 S.
Reihe Chemical Analysis
Band Vol. 86
ISBN 0-471-01056-1
Kataloginformation283 Datensatzanfang . Kataloginformation283 Seitenanfang .
Exemplarinformationen
Barcode Regalstandort Bandzählg. Zweigstelle Status
50000387 E2M: Pq II 007
  Plasmarand und Wand . Verfügbar .
. Katalogdatensatz283 ItemInfo Datensatzanfang . Katalogdatensatz283 ItemInfo Seitenanfang .
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