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Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors: Proceedings of a Symposium D of the 1990 E-MRS Fall Conference
Exemplarinformationen
Katalogdatensatz44995
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Kataloginformation
Katalogdatensatz44995
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Kataloginformation
Feldname
Details
Editor
Bastard, G.
Oppolzer, H.
TITLE
Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors
Untertitel
Proceedings of a Symposium D of the 1990 E-MRS Fall Conference
Place of Publ.
Amsterdam
Verleger
North-Holland Publ.
Publ. Year
1991
Seiten
537 S.
Reihe
Applied Surface Science
Band
Vol. 50
Conf. Place
Strasbourg (FR)
Conf. Date
27.11.1990 - -
30.11.1990
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Bandzählg.
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Status
50056617
ZB: Zeitschrift
Zentralbibliothek
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