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Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors: Proceedings of a Symposium D of the 1990 E-MRS Fall Conference

Kataloginformation
Feldname Details
Editor Bastard, G.
Oppolzer, H.
TITLE Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors
Untertitel Proceedings of a Symposium D of the 1990 E-MRS Fall Conference
Place of Publ. Amsterdam
Verleger North-Holland Publ.
Publ. Year 1991
Seiten 537 S.
Reihe Applied Surface Science
Band Vol. 50
Conf. Place Strasbourg (FR)
Conf. Date 27.11.1990 - -
30.11.1990
Kataloginformation44995 Datensatzanfang . Kataloginformation44995 Seitenanfang .
Exemplarinformationen
Barcode Regalstandort Bandzählg. Zweigstelle Status
50056617 ZB: Zeitschrift
  Zentralbibliothek . Verfügbar .
. Katalogdatensatz44995 ItemInfo Datensatzanfang . Katalogdatensatz44995 ItemInfo Seitenanfang .
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