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Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS 2: Proceedings of the 2.Internat. Conference

Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS 2: Proceedings of the 2.Internat. Conference
Kataloginformation
Feldname Details
Editor Benninghoven, A.
Evans, C.A. Jr.
Powell, R.A.
Further Persons et al.
TITLE Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS 2
Untertitel Proceedings of the 2.Internat. Conference
Place of Publ. Berlin
Verleger Springer
Publ. Year 1979
Seiten 295 S.
Figures 234 Fig.
Reihe Springer Series in Chemical Physics
Band Vol. 9
ISBN 3-540-09843-7
Conf. Place Stanford, CA(US)
Conf. Date 27.08.1979 - -
31.08.1979
Kataloginformation75371 Datensatzanfang . Kataloginformation75371 Seitenanfang .
Exemplarinformationen
Barcode Regalstandort Bandzählg. Zweigstelle Status
50089680 ZB: Ps 146
  Zentralbibliothek . Verfügbar .
50089681 E2M: Pq II(T) 009
  Plasmarand und Wand . Verfügbar .
. Katalogdatensatz75371 ItemInfo Datensatzanfang . Katalogdatensatz75371 ItemInfo Seitenanfang .
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