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Nr. Thumbnail Titel Verfasser Jahr Kennz. Exemplarinformation
1 Depth Distributions of Low Energy Deuterium Implanted into Silicon as Determined by SIMS [Report] MAGEE C W 1979   Regalstandort: ZB: P 24315.
Anzahl Exemplare: 1.
2 Erosion / Redeposition Modeling and Calculations for Carbon [Report] BROOKS J N 1988   Regalstandort: ZB: R 4880.
Anzahl Exemplare: 1.
3 Flux and Energy of Deuterium Incident on a Limiter-Like Probe in PLT [Report] WAMPLER W R 1980   Regalstandort: ZB: P 27536.
Anzahl Exemplare: 1.
4 High Incident Ion Energies High Incident Ion Energies [Book]
Reihe:Ion Implantation Range and Energy Deposition DistributionsBand :Vol. 1
 		Brice, D.K. 1975 Buch Regalstandort: ZB: Py 38.
Anzahl Exemplare: 2.
5 Ion Implantation in Semiconductors: Proc. of the 5.Internat.Conf. Ion Implantation in Semiconductors: Proc. of the 5.Internat.Conf. [Conference]   1977 Conference Regalstandort: ZB: Pn 219.
Anzahl Exemplare: 1.
6 Retention, Isotope Exchange, and Thermal Release of Hydrogen in Low Z Materials [Report] WAMPLER W R 1980   Regalstandort: ZB: P 26977.
Anzahl Exemplare: 2.
7 Retention, Isotope Exchange and Thermal Release of Hydrogen in Candidate Materials for TFTR [Report] WAMPLER W R 1980   Regalstandort: ZB: P 27455.
Anzahl Exemplare: 1.
8 Tables of Generalized Hydrogen Diffusion Profiles and Permeating Fluxes for Fusion Applications [Report] BRICE D K 1985   Regalstandort: ZB: P 32265.
Anzahl Exemplare: 1.
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