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Near Infrared Microscopy - a Simple but Effective Technique to Analyze Microdefects in GaAs

Kataloginformation
Feldname Details
Verfasser Sonnenberg, K.
Altmann, A.
Körperschaften Forschungszentrum Juelich GmbH (KFA) (DE). Inst. fuer Festkoerperforschung
TITLE Near Infrared Microscopy - a Simple but Effective Technique to Analyze Microdefects in GaAs
Publ. Year 1994
Seiten 107 S.
ISSN ISSN 0944-2952
Report No. JUEL-2939
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Barcode Regalstandort Bandzählg. Zweigstelle Status
50074198 ZB: R 12693
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