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Scanning Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis

Scanning Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis
Kataloginformation
Feldname Details
RSN 277
Verfasser Reimer, L.
TITLE Scanning Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis
Place of Publ. Berlin
Verleger Springer
Illustration 247 Fig.
Seiten 457 S.
Reihe Springer Series in Optical Sciences
Band Vol.45
ISBN 3-540-13530-8
Signatur II/3B-4
Kataloginformation277 Datensatzanfang . Kataloginformation277 Seitenanfang .
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